電感耦合等離子體發射光譜儀：*的多峰擬合技術，在處理復雜基體時，可將分析信號從測量光譜中提取出來，消除干擾元素影響，增加測量的準確度。

• 企業類型：制造商
• 新舊程度：全新
• 原產地：江蘇昆山

等離子體發射光譜分析法是光譜分析技術中，以等離子體炬作為激發光源的一種發射光譜分析技術。其中以電感耦合等離子體（inductively coupled plasma，簡稱為ICP）作為激發光源的發射光譜分析方法，簡稱為ICP-OES，是光譜分析中研究zui為深入和應用zui為廣泛、有效的分析技術之一。
 電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES的分析原理： 電感耦合等離子體焰矩溫度可達6000~8000K，當將試樣由進樣器引入霧化器，并被氬載氣帶入焰矩時，則試樣中組分被原子化、電離、激發，以光的形式發射出能量。不同元素的原子在激發或電離時，發射不同波長的特征光譜，故根據特征光的波長可進行定性分析；元素的含量不同時，發射特征光的強弱也不同，據此可進行定量分析，其定量關系可用下式表示：I=aC^b式中：I—發射特征譜線的強度；C—被測元素的濃度；a—與試樣組成、形態及測定條件等有關的系數；b—自吸系數，b≤1

ICP3200全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀是天瑞儀器繼ICP3000成功推出后，推出的又一款全新概念、創新的雙向觀測ICP-OES，融合變頻電源技術、智能光路切換技術、譜線深度處理技術，可實現基于雙向觀測的定量與定性分析處理。


強大的軟件分析功能
逐步向導式，輕松建立分析方法，輕松完成測量，易學易懂。
智能光學校準算法，可自動校準二維光譜位置，無需重復譜峰校準即可進行測量，保證準確測量的同時節約大量的溶液和時間。
多樣品結果集管理，方便用戶對樣品歸類集合，便于結果查詢和離線處理。
*的多峰擬合技術，在處理復雜基體時，可將分析信號從測量光譜中提取出來，消除干擾元素影響，增加測量的準確度。

雙向觀測光路智能定位
開機后可根據需要選擇調節模式，智能定位垂直炬雙向觀測位置。并且在方法開發中無需針對未知樣中的元素選擇分析模式，在選擇測量元素和波長后，軟件根據大數據庫對信息將儀器自動切換到測量模式，大大減少測量時間，提高測量效率。

自動校正特征譜線位置
全譜直讀ICP3200分析軟件采用天瑞團隊自主研發的自動校峰算法，方法基于三坐標映射可快速標定二維光譜波長，無需重復校峰操作。

*的定性分析算法
全譜直讀ICP3200分析軟件采用天瑞儀器*定性分析技術，方法中針對復雜基體，依次甄別主含量元素、次主含量元素，以此為判斷先驗條件來判斷未知元素是否存在。
同時采用多元高斯擬合算法大大減少干擾對待定元素譜線的誤判。
軟件采用概率顯示分析結果，大幅提高了定性分析準確度。

應用領域

環保行業、石化行業、冶金行業、玩具行業、地礦行業、貴金屬行業、稀土行業